原子发射光谱分析中由试样基体的组成与结构对谱线强度产生的影响叫结构影响

题目A130826nm1的谱线强度为8级309.27nmI的话线强度为9级采用光谱分析确定试样中A1是否请注意与下面工程光学题目有着相似或相关知识点, 看谱分析中所谓谱线强度是指谱线的黑度; 在原子吸收分析中采用标准加入法可以消除。

原子发射光谱分析中由试样基体的组成与结构对谱线强度产生的影响叫结构影响

学习时建议同时掌以下几题,谱分析中有自吸现象的谱线在试样中元素的含量增多时自吸程度将.。

X射线荧光光谱分析法也会对分析试样造成破坏与损伤。

原子吸收光谱分析过程中被测元素的相对原子质量愈小温度愈高则谱线的热变宽将是。

相同的知识点，可以不同方式出题，建议一起学习掌握。