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缺陷的回波高度主要取决于其大小形状和取向缺陷的性质对其回波高度大小没有影响
来源: 无损检测技术资格人员考试
发布时间:2017-02-19
题目A型扫描显示中从荧光上直接可获得的信息是请注意与下面无损检测技术资格人员考试题目有着相似或相关知识点, A型扫描显示中从荧光上直接可获得的信息是; 缺陷反射声能的大小取决于。
缺陷的回波高度主要取决于其大小形状和取向缺陷的性质对其回波高度大小没有影响
学习时建议同时掌以下几题,缺陷反射声能的大小取决于:。
缺陷反射声压的大小取决于。
A型扫描显示中从荧光屏上直接可获得的信息是。
相同的知识点,可以不同方式出题,建议一起学习掌握。
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