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检测晶粒粗大的材料应使用
来源: 无损检测技术资格人员考试
发布时间:2017-02-19
题目 检测晶粒粗大的材料应使用高频率的探头 请注意与下面无损检测技术资格人员考试题目有着相似或相关知识点, 所谓幻影回波是由于探伤频率过高或材料晶粒粗大引起的; 晶粒较粗大的材料在一定的射线透照条件下射线底片上可能产生衍射斑纹。
检测晶粒粗大的材料应使用
学习时建议同时掌以下几题,金属中粗大的晶粒在超声波检测中会引起。
由材料晶粒粗大而引起的衰减属于。
由材料晶粒粗大而引起的衰减属于。
相同的知识点,可以不同方式出题,建议一起学习掌握。
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