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X射线检测时选择适当底片的考虑依据是
来源: 无损检测技术资格人员考试
发布时间:2021-01-10
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X射线检测时选择适当底片的考虑依据是
学习时建议同时掌以下几题,某试件中间部分薄四周厚射线照相检测时要使此两部分均满足所要求的底片黑度与 质量则应。
某试件中间部分薄四周厚射线检测时要使此两部分均达所要求的黑度与品质则应。
某试件中间部分薄四周厚射线检测时要使此两部分均达所要求的黑度与品质则应。
相同的知识点,可以不同方式出题,建议一起学习掌握。
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