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当X或γ射线源移去以后工件不再受辐射作用但工件本身仍残留极低的辐射

来源: 无损检测技术资格人员考试 发布时间:2021-01-10

题目当x或y射线源移去以后工件不再受辐射作用但工件本身仍残留极低的辐射请注意与下面无损检测技术资格人员考试题目有着相似或相关知识点, 当X或γ射线源移去以后工件不再受辐射作用工件本身也就没有辐射; 当X或γ射源移去以后工件不再受辐射作用但工件本身仍残留极低的辐射。

当X或γ射线源移去以后工件不再受辐射作用但工件本身仍残留极低的辐射

学习时建议同时掌以下几题,当X和γ射源移去以后工件不再受辐射作用但工件本身仍残留极低 的辐射。

对环焊缝作源在外的单壁透照时确定透照次数与相关。

对环焊缝作源在外的单壁透照时确定透照次数与相关。

相同的知识点,可以不同方式出题,建议一起学习掌握。

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