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磁粉探伤用环形人工缺陷试块用于周向直接通电法的磁粉材料和系统灵敏度的评价
来源: 无损检测技术资格人员考试
发布时间:2017-02-19
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磁粉探伤用环形人工缺陷试块用于周向直接通电法的磁粉材料和系统灵敏度的评价
学习时建议同时掌以下几题,磁粉探伤用环形人工缺陷试块用于中心导体法的磁粉材料和系统灵敏度的评价。
人工缺陷试环用于法的磁粉材料和系统灵敏度的评价。
试块主要用于检验磁粉探伤的系统灵敏度确定被检工件的磁化规范 。
相同的知识点,可以不同方式出题,建议一起学习掌握。
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