按右图所示的标准 试件可用来测定:

题目按JB4248-86标准对于小型锻件进行纵向磁化时可用公式予以计算但试件的长径比需满足等于或大于的条请注意与下面无损检测技术资格人员考试题目有着相似或相关知识点, 灵敏度标准试片的使用可用来测定磁粉探伤系统的综合性能和磁粉性能 ; 按下右图所示叙述铁磁性材料的磁滞回路 。

按右图所示的标准 试件可用来测定:

学习时建议同时掌以下几题,按 右图所 示的标 准试 件可 用来测 定:。

CSK-IB试块上Φ50和Φ44mm两孔的台阶可用来测定的。

CSK-ⅠA试块上φ50φ44φ40三孔的台阶可用来测定斜探头的分辨力 。

相同的知识点，可以不同方式出题，建议一起学习掌握。