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双晶探头主要用于近表面缺陷的探测
来源: 无损检测技术资格人员考试
发布时间:2021-01-05
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双晶探头主要用于近表面缺陷的探测
学习时建议同时掌以下几题,焊缝用串列探头进行扫查主要用于检测。
焊缝用串列探头进行扫查主要用于检测。
检验近表面缺陷最有效的方法是:。
相同的知识点,可以不同方式出题,建议一起学习掌握。
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